[기계재료실험] X-ray 회절 피크를 이용한 격자상수 및 입도분석
등록일 2003.08.22
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목차
- 회절피크의 위치 보정- 격자상수의 계산
- 결정립 크기의 계산
본문내용
● 격자상수의 계산미지의 결정질 시료인 경우 관찰되는 회절피크들의 상 분석은 회절피크중 회절세기가 큰 것을 순서대로 골라 JCPDS 분말회절철중 회절피크로부터 해당물질을 찾아볼 수 있는 편람에서 면간거리값의 비교로부터 알아낸다. 이후 해당물질의 회절피크가 수록되어 있는 카드를 회절철에서 찾아 X선 스펙트럼 상에서 관찰된 회절피크와 JCPDS카드상의 회절피크와 일치하지 아니하므로 해당피크를 제외한 나머지 피크를 앞에 기술된 과정을 반복하여 해당물질을 밝혀낸다. 이 경우 피크의 중첩여부, 시료 이외의 성분(시료받침)에 의한 회절피크의 존재여부 및 Kβ선에 의한 회절피크의 형성여부 등에 주의를 기울여야 한다.
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![[기계재료실험] X-ray 회절 피크를 이용한 격자상수 및 입도분석](/doc/cover/2377093/%EA%B8%B0%EA%B3%84%EC%9E%AC%EB%A3%8C%EC%8B%A4%ED%97%98_X-ray_%ED%9A%8C%EC%A0%88_%ED%94%BC%ED%81%AC%EB%A5%BC_%EC%9D%B4%EC%9A%A9%ED%95%9C_%EA%B2%A9%EC%9E%90%EC%83%81%EC%88%98_%EB%B0%8F_%EC%9E%85%EB%8F%84%EB%B6%84%EC%84%9D.jpg)
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