X선결정학 보고서 dspacing 을 이용한 XRD data 보정 후 격자상수 구하기 신소재공학과

소개글

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목차

1. 개요
2. 측정조건
3. XRD data of Si doped InSe alloys
4. 분석

본문내용

1. 개요
XRD 장비를 이용하여 샘플의 격자상수를 구하는 실험을 한다. d-spacing 은 X- Ray 가 조사된 시편의 면의 면간거리이다. 이는, 조건에 따라 2가지 공식을 사용해 구할 수 있는데, 첫 번째는 브래그법칙인 nλ=2dsin2Θ 이다. 사용한 X-ray 파장과 peak 이 나타난 Θ값을 확인하여 공식에 대입하게 되면 얻을 수 있다.

<중 략>

4. 분석
실험값을 통해 분석을 해보면, InSe와 1%의 Si 라는 impurity가 포함되었을 때 격자상수의 값이 달라진다. hcp 구조를 가지는 InSe는 c값이 16.68Å에서 16.60Å으로 감소하고, 격자상수 a의 경우에는 4.02Å에서 4.01Å 로 거의 차이가 발생하지 않는다. 이때, 격자상수 c와 a가 변하는 이유를 추론해보면 다음과 같다.

참고 자료

없음