신소재물리 Report-파울리의 배타 원리

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목차

1. Diffractometer 구성
1-1. X선 발생장치(X-Ray Generator, XG)
1-2. 고니오메타(Goniometer)
1-3. 모노크로미터
1-4. 계수기록장치(Electronic Circuit Panel, ECP)

2. X-ray 발생

본문내용

1. Diffractometer 구성
X선 회절장치(X-Ray Diffractometer, XRD)는 시료의 상태에 따라서 분말법용과 단결정용으로 분류할 수 있다. 또, X선 회절장치는 X선의 검출 방법에 따라서, Film을 사용하는 사진법에 의한 것과 Counter(검출기)를 이용하는 Counter법에 의한 것으로 분류할 수 있다. Counter에 의해 자동기록방식을 이용한 X선 회절계를 디프랙토메타 (Diffractometer)라고 하며, 주로 분말법용으로 이용한다.Diffractometer는 크게 나누어서 X선을 발생 시키는 X선 발생장치(X-Ray Generator, XG), 각도 2θ를 측정하는 고니오메터(Goniometer), X선 강도(X-Rays Intensity)를 측정하는 계수기록장치(Electronic Circuit Panel, ECP), 이러한 것들을 제어하고 연산을 하는 제어연산장치(Control/Data Processing Unit, Computer) 의 4가지 부분으로 되어있다.

참고 자료

없음