XRD 결과보고서
- 최초 등록일
- 2017.10.25
- 최종 저작일
- 2017.10
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목차
1. 실험목적
2. 실험이론
3. 실험장치
4. 실험방법
5. 측정값
6. 실험결과
7. 결과에 대한 논의
8. 결론
9. 참고문헌
본문내용
4. 실험방법
1. X-ray 장치의 전면부의 창을 열고, 시료를 표적 장착부에 올리고 고정시킨다.
2. 시료가 고정되었는지 확인하고 창을 닫는다.
3. 장치와 연결되어있는 PC를 켜고 X-선 프로그램을 시작한다.
4. 전에 측정한 데이터가 있다면 F4키를 눌러서 화면을 비운다.
5. X-선 장치를 켜고, 초기화한다.
6. U버튼을 누르고 [adjust] 채널을 천천히 돌리면서 전압을 35kV까지 올린다.
7. I버튼을 눌러서 전류를 1.0mA로 설정한다.
8. 버튼을 눌러서 각도별 측정 시간을 1초로 설정한다.
9. 버튼을 눌러서 각도의 단계를 0.1로 한다.
10. COUPLED 버튼을 누르고 [adjust] 채널을 천천히 돌리면서 감지기가 표적보다 2배의 각도로 같이 회전하는지 확인한다.
11. limit 버튼을 한 번 눌러서 표적 각도의 최소각을 2.5도로 설정한다.
12. limit 버튼을 한 번 더 눌러서 표적 각도의 최대각을 50로 설정한다.
13. 그 다음 장치의 화면 아래의 SCAN 버튼을 누르면 측정이 시작된다.
참고 자료
부산대학교 물리학과 XRD 실험 메뉴얼
Physics Leaflets Properties of crystals X-ray structural analysis : P7.1.2.4 page5
Physics Leaflets Properties of crystals X-ray structural analysis : P7.1.2.4 page5
숭실대학교 물리학과 XRD 실험 매뉴얼http://physics.ssu.ac.kr/course/modern_physics_lab/bragg.pdf