가속수명시험모형

목차

Ⅰ. 가속수명시험 개요
Ⅱ. 가속수명시험 데이터의 해석
Ⅲ. 가속수명시험의 설계

본문내용

Ⅰ. 가속수명시험 개요
신 제품의 개발과정에서 잠재적인 고장모드를 조사하거나, 설계 또는 제조방법의 비교를 위하여, 또는 신뢰성 평가를 위하여 수명시험을 실시한다. 한편, 설계/제조 기술의 발전으로 많은 제품들이 높은 신뢰성을 갖게 되어 사용조건에서 수명시험을 하는 것은 오랜 시간과 많은 비용이 소요되고, 또한 다양한 소비자 요구를 만족시키고 시장 경쟁력 확보를 위하여제품의 순기(life cycle)가 점점 짧아짐에 따라 빠른 시간내에 제품 개발 및 평가가 필요한실정이다. 따라서 빠른 시간내에 제품의 신뢰성과 관련된 정보를 얻는 것이 필요하며, 이를위하여 가속수명시험이 사용된다.
가속수명시험은 제품의 수명에 영향을 주는 변수, 예를 들어 전자 부품의 경우 온도 또는 전압과 같은 스트레스의 수준을 사용조건 보다 높게 설정하고 시험하여 제품의 수명 단축 또는 성능의 열화를 촉진시켜 빠른 시간내에 수명데이터를 얻는 시험이다. 높은 스트레스 수준에서 측정된 수명데이터는 수명과 스트레스의 관계식 추정을 통하여 사용조건으로 외삽
(extrapolation)되며, 이로부터 사용조건에서의 신뢰성에 대한 추정을 한다.
 
(1) 가속수명시험(Accelerated Life Test)
 부품 또는 간단한 어셈블리를 대상으로 하며 사용조건보다 가혹한 조건(가속조건)에서 시험하여 고장을 촉진시키고, 기속조건에서 관측된 데이터로부터 수명-스트레스 관계를 추정하고, 이를 사용조건으로 외삽(exrtapolation)하여 사용조건에서의 수명을 빨리 추정하기 위한 시험이다.
 
- 가속수명시험에서 고장을 가속하기 위한 방법으로 ⓛ 사용률을 높이거나, ② 과부하를 인가할 수 있다.

 - 사용률을 높여 가속을 시키는 예로, 베어링을 실제 사용속도보다 빠르게 시험하거나, 절 연 내구시험에 사용하는 교류전압을 60Hz 대신 412Hz에서 시험하는 경우, 냉장고 문의 내구 개폐시험, TV의 on-off 스위치시험 등 많은 경우가 있다.

참고 자료

없음