Scanning Electron Microscope

저작시기 2010.10 |등록일 2011.09.13 파워포인트파일MS 파워포인트 (pptx) | 19페이지 | 가격 1,000원
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소개글

1. 광학현미경의 기본개념 및 원리

2. 전자현미경의 기본개념 및 원리

3. 주사전자현미경(SEM)의 개념 및 원리

4. 주사전자현미경(SEM)의 구성

5. 주사전자현미경(SEM)을 통한 시료 관측

6. 주사전자현미경(SEM)과 광학현미경 비교

7. 주사전자현미경(SEM)의 특징 및 장단점

목차

1. 광학현미경의 기본개념 및 원리

2. 전자현미경의 기본개념 및 원리

3. 주사전자현미경(SEM)의 개념 및 원리

4. 주사전자현미경(SEM)의 구성

5. 주사전자현미경(SEM)을 통한 시료 관측

6. 주사전자현미경(SEM)과 광학현미경 비교

7. 주사전자현미경(SEM)의 특징 및 장단점

본문내용

광학현미경에서 사용하는 가시광선 대신 전자빔을, 또한 유리렌즈 대신 전자렌즈를 사용하여 물체의 확대상을 만드는 장치

투과전자현미경 (Transmission Electron Microscope)
주사전자현미경 (Scanning Electron Microscope)

전자현미경은 가시광선 대신 전자빔을 사용하기 때문에 현미경의 내부는 진공상태이어야 한다.
전자는 공기와 충돌하면 에너지가 소실되거나 굴절되는 등
제어하기 힘듦

광학현미경은 실제의 상을, 전자현미경은 형광판이나 사진판을 통해 상을 볼 수 있음.

광학현미경은 표본의 빛을 흡수, 반사 함으로써 상이 형성되는 반면 전자현미경은 전자선이 시료의 표면에 충돌하면 발생하는 이차 전자, 산란전자, 투과전자, X-Ray 등을 측정하여 표면의 형태를 영상으로 나타낸다.

주사전자현미경(SEM)이란?

전자선(약 1nm ~ 100nm)이 시료면 위를 주사(Scanning)할 때 시
료에서 발생되는 여러 가지 신호 중 그 발생확률이 가장 높은 이차
전자 (Secondary Electron) 또는 후방산란전자 (Back Scattered
Electron)를 검출하는 것으로 대상을 관찰하는 현미경이다.

참고 자료

없음
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