FET의 시험,다이리스터의 시험

최초 등록일
1999.10.12
최종 저작일
1999.10
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목차

11. FET의 시험
12. 다이리스터의 시험
13. UJT의 시험
14. 그 밖의 반도체 소자의 시험

본문내용

(1) 접합형 FET의 시험
FET는 전계 효과형 트랜지스터의 약칭으로서, 일반 트랜지스터와 동작원리가 다르다. 그리고 FET속에도 종류가 여러 가지 있는데, 우리들이 많이 사용하는 것은 N채널(N형 반도체를 전류의 통로로 하는 품종)의 접합형이다.
테스터를 최고 저항레인지로 하여 제로(0) 옴으로 조정을 하고, 시험봉(물론 클립을 사용한다.)을 대면, FET에 전류가 흐르기 때문에, 지침은 최대 눈금(저항 눈금은 제로) 부근까지 움직이는 것과 도중까지 움직이는 것이 있다. 어느 것이건 다 좋지만, 최대 눈금 부근까지 움직이는 것은 중앙 부근까지 움직이도록 측정 레인지를 1단, 또는 2단 낮추어(LI 레인지로서는 올린다.) LI눈금을 읽는다.
다음에, 시험봉을 바꿔 끼어서 지침의 움직임을 본다. 먼저와 같은 것과 다른 것이 있는데, 어느 것이라도 좋은 것이다.

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