Figure SEQ Figure \* ARABIC 29 Profilometer in LPICM 2.3.6. ... The measurement range of a typical profilometer is from tens of nm to tens of mm. ... Figure 29 is the profilometer that we used to analyze the thickness of contact materials (ITO, Al).
위에 있는 surface profilometer자료 ⑤http://bmkim49.egloos.com/m/10386233 -Ra 설명 ... 1.introduction: AFM과, surface profilometer를 이용하여 시료의 표면 평균거칠기를 구해보고 이해를 한다. 2.the process material : ... XE-100), surface profilometer(ET-3000i) -operating conditions AFM은 저번 실험의 SEM고 KEKFFL 대기중에서도 측정이 가능하여