XRD에의한정성분석법

목차

정성분석이란?
XRD(x-ray diffraction)에 의한 정성분석

본문내용

-X선 회절법에 의한 정성분석
이 방법은 미지시료의 회절(diffraction)과 이미 알고 있는 물질의 회절 등을 비교하여 미지시료의 회절 중에 이미 알고 있는 물질의 회절, 패턴이 포함되어 있으면, 전자에는 후자의 물질이 함유되어 있다고 판정하는 방법이다.
이 방법으로 정성분석을 하는 것을 분말 X선 회절법(Powder X-Ray Diffractometry)에 의한 정성분석이라고 한다.
이미 알고 있는 물질의 회절 pattern을 표준으로 하는 JCPDS card 의 data가 사용되고 있다.

-X선 회절법에 의한 정성분석의 특징
①단순하게 원소에대한 정성분석이 아니고, 화합물의 형태로 미지의 물질이 분석된다.
②구성원소의 상태를 알 수 있다.(조성분석, 상태분석)
③단일성분이 아닌 경우, 혼합물인지 고용체인지의 구별이 가능하다.
④화합물의 상변화, 변태의 구별이 가능하다.
⑤시료는 소량으로도 좋으며, 시료조정이 비교적 간단하고, 측정하는 것에 의해 손상되지 않는다.(비파괴분석)
⑥시료가 분말로 되어 있거나, 그 형상은 판형상, 괴상, 선상 등의 어떤 모양이든지 측정수단을 바꾸어 측정가능하다.

참고 자료

없음