SEM결과레포트

목차

1. SEM 분석 목적
2. 본 관찰에 사용된 SEM 장비의 특성을 조사하시오.
3. 관찰 및 Image 분석 결과
4. 결론

본문내용

1. SEM 분석 목적
SEM 분석 실험의 목적은 금속의 연성(ductile) 취성(brittle) 파단면 특성을 광학현미경이 아닌 주사전자현미경을 이용하여 관찰함으로써 파단면의 특성을 보다 정확하게 관찰하고 이해하는 데 있다. 또한 주사전자현미경은 광학현미경에 비해 전자의 파장이 극히 짧게 되어 있기 때문에 고배율, 고분해능의 상을 얻을 수 있으므로, 보다 세밀한 관찰을 할 수 있다. 실제 SEM은 재료의 표면 분석, 표면 성분 분석, Failure analysis, Metallurgy 등 재료공학에서 주로 사용된다. 2. 본 관찰에 사용된 SEM 장비의 특성을 조사하시오.
중앙대학교 공동기기원에 있는 주사전자현미경으로서 Hitachi사의 -3400N 으로서 공식적인 제원은 다음과 같다.

<중 략>

연성파단면의 경우 취성파단면에 비해 상대적으로 높은 온도에서 Small supercooling 했기 때문에, 핵생성 속도가 느리며, 탄소가 충분히 확산될 수 있는 시간적 여유가 있어서 large crystals을 갖고, 그림과 같이 분자배열이 복잡하기 때문에, 찢어진 듯한 파단면을 보인다. 이를 통해 연성재료는 분자의 복잡한 배열 때문에 외부에서 힘을 작용하면 분자의 빈 공간이 많으므로 에너지를 흡수하기 유리함을 알 수 있다.

참고 자료

Foundations of Materials Science and Engineering - Smith
고체재료실험 강의 노트
Hitagchi High-Technology 홈페이지