전자회로실험_설계1 결과
- 최초 등록일
- 2012.07.13
- 최종 저작일
- 2012.05
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소개글
2012년부터 바뀐 신형 오실로스코프사용
목차
1. 설계 목적
2. 회로선택
3. 이론
4. 내용
5. 고찰
본문내용
5. 고찰
이번 설계는 커패시턴스를 측정하는 회로를 구성하여 측정해보는 과정이었다. 우리조는 앞의 실험에서 배웠던 회로를 이용하여 커패시턴스를 구하는 것이 충분히 가능하다고 생각하여 사각파발생회로를 사용해서 커패시턴스를 측정하였다. 커패시턴스를 측정하는 원리는 앞의 이론에서 나온것처럼 저항과 커패시턴스의 값에 따라 발생하는 사각파의 주기가 달라지는데 이를 측정하여 위의 계산식에 따라 커패시턴스를 측정하는 방법이다. 이때 는 고정으로 사용하고 나머지 R은 C값에 따라 적절한 저항을 골라서 사용해야 한다. 커패시턴스가 작을수록 시정수가 너무 작아져서 측정오차가 커지기 때문에 값을 크게 사용해야 하고 큰 커패시턴스는 반대로 작은 을 사용하여야 한다. 실험시간에는 4.7, 47 uF을 측정 할 때는 를 써서 측정 한 결과 작은 오차만을 가졌지만(실험실에 준비된 저항이 100M까지 있길래 M단위의 저항도 가져와봐서 측정을 해 보았더니 굉장히 큰 오차를 가졌고 테스트로 1uF이하의 커패시터를 측정을 할 때는 그 저항이 더 작은 오차를 가졌었다.)
참고 자료
없음