전자 회로 실험 - 이미터 공통 증폭기의 특성

소개글

전자 회로 실험 사전 레포트

목차

1. 실험 목적
2. 기초 이론
3. 실험 순서
4. 결과 예측

본문내용

1. 실험 목적
이미터 공통(CE) 증폭기의 전압 이득을 측정한다.
증폭기 이득에 대한 이미터 바이패스 커패시터의 영향을 관측한다.
CE 증폭기의 입력 및 출력 임피던스를 측정한다.
CE 증폭기의 전력 이득을 결정한다.
오실로스코프를 사용해서 CE 증폭기의 입력과 출력 신호 전압의 위상을 관측한다.

2. 기초 이론
교류 증폭기로서의 트랜지스터
소량의 베이스 전류의 증가는 컬렉터 전류의 큰 변화를 일으킨다. (VCE가 일정할 때 β = Δ(IC)/Δ(IB))
C1에 의해 베이스 회로에 결합된 입력 신호 전류는 바이어스 전류 (IB)에 중첩되어 베이스 전류를 증가 또는 감소시킨다.
선형 영역에서, 베이스 회로 전류의 이러한 정현파적인 변화는, 베이스 전류와 동상이고 정현파적으로 변하는 컬렉터 전류를 발생시킨다.
VC = VCC-VRL, 정현파 베이스 전압과 컬렉터 전압은 180도 위상차.
이미터 바이패스 커패시터
CE는 RE와 병렬로 접속되어 있다.->증폭기의 교류신호이득 회복 목적
CE는 교류신호에 대해 저임피던스 경로로 작용한다.-> RE는 효과적으로 바이패스된다.-> RE에 기인하는 교류신호의 감소량 무시가능->교류신호 이득 회복, RE는 직류 바이어스를 안정화 시키는 역할을 한다.
최저 주파수 Fmin에서 XCE = RE/10 식이 만족될 때 CE는 적절한 바이패스로 생각된다.

참고 자료

없음