디지털공학실험(예비 및 결과 보고서)
- 최초 등록일
- 2007.11.28
- 최종 저작일
- 2006.12
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소개글
한 학기동안 디지털 공학실험의 예비 및 결과 보고서 모음입니다.
보고서만으로 A+의 성적을 받았습니다.
좋은 참고 바랍니다.
목차
실험1기본 논리 게이트 예비 보고서
실험1기본논리게이트 결과보고서
실험2플립플롭 예비보고서
실험2플립플롭 결과 보고서
실험3시프트 레지스터 예비 보고서
실험3시프트레지스터 결과보고서
실험4카운터 예비 보고서
실험4카운터 결과 보고서
실험5디코더 예비 보고서
실험5디코더 결과보고서
실험6멀티플렉서 결과보고서
실험7RAM ROM예비보고서
실험7RAM ROM 결과보고서
본문내용
3. 실험순서
회로 (a),(b),(c),(d),(e),(f),(g),(h),(i),(j),(k),(l) 디지털 공학실험책 참조
(1) 디지털 실험기판 위에 7408 AND 게이트를 이용해 실험회로 (a)를 구성하고 데이터 스위치를 A, B에 연결하고 스위치를 변환시키면서 오실로스코프를 사용하여 X의 출력 전압을 측정하여 이 전압이 low 인지 high 인지 판독한다.
(2) 7432 OR 게이트, 7400 NAND 게이트, 7402 NOR 게이트, 7486 XOR 게이트를 이용하여 실험회로 (b),(c),(d),(e)를 구성하고 순서 (1)을 반복한다.
(3) 7400 NAND 게이트, 7402 NOR 게이트를 이용하여 각각 회로 (f),(g)를 구성하고 순서 (1)을 반복한다.
(4) 7404 NOT 게이트, 7408 AND 게이트, 7432 OR 게이트를 이용하여 XOR 등가회로 (h)를 구성하고 순서 (1)을 반복한다.
(5) 7400 NAND 게이트를 이용하여 회로 (i)를 구성하고, 순서 (1)을 반복한다.
(6) 7402 NOR 게이트 두 개를 이용하여 회로 (j)를 구성하고, 순서 (1)을 반복한다.
(7) 7486 XOR 게이트를 이용해서 패리티 확인회로 (k)를 구성하고 순서 (1)을 반복한다.
(8) 7404 NOT 게이트를 이용해서 회로 (l)을 구성하고 스위치를 A에 연결한 후 X₁~ X₆의 논리 상태를 측정하여 기록하고 오실로스코프의 두 채널을 모두 사용하여 두 파형을 도시하고, 그 사이의 전파 지연을 측정한다.
참고 자료
디지털공학실험 -강의 실험 그리고 설계- 이병기 저
압축파일 내 파일목록
실험1기본 논리 게이트 예비 보고서.hwp
실험1기본논리게이트 결과보고서.hwp
실험2플립플롭 결과 보고서.hwp
실험2플립플롭 예비보고서.hwp
실험3시프트 레지스터 예비 보고서.hwp
실험3시프트레지스터 결과보고서.hwp
실험4카운터 결과 보고서.hwp
실험4카운터 예비 보고서.hwp
실험5디코더 결과보고서.hwp
실험5디코더 예비 보고서.hwp
실험6멀티플렉서 결과보고서.hwp
실험7RAM ROM 결과보고서.hwp
실험7RAM ROM예비보고서.hwp