[화학공학, 화학분석, 응용화학] FI-IR/XRD(적외선 분광법/X선 회절분석법 실험결과)

등록일 2003.08.30 MS 파워포인트 (ppt) | 38페이지 | 가격 1,000원

소개글

실험리포트 입니다. 정성을 들여 만든것이니.......많이들 받아가세요

목차

<적외선 분광법>
- FI/IR 역사
- 전자파 중적외선의 위치
- 적외선 스펙트럼
- 적외선 흡수원리
- 장치의 원리
- FI/IR 장치
- 측정방법
- 장점
- 사진

<X-선 회절 분석법>
- X선이란?
- X선 회절이란
- 역사
- 검출법
- 장치구성
- 장치설명
- 결과분석법
- 장비사진

본문내용

<광원장치>
▶적외선은 Nernst filament 또는 Globard와 같은 열광원이 전기적으로 100~1800도까지 가열됨에 의해 생긴다.
▶광원의 분류로는 Continuous Source 와 Line Source 로 분리된다.

<X 선 발생장치>
▶가열된 음극(일반적으로 텅스텐 필라멘트를 사용한다)으로 부터 나온 열전자를 가속시켜 Target(대음극)에 충돌하면서 X선(X-rays)이 방사된다.
▶Target을 향한 전자의 흐름은 일반적으로 넓게 퍼지므로 Wenelt 원통(Wehnelt cylinder)에 적당한 전장을 걸어서,
전자 흐름의 발산을 막고 Target 위에 필요한 크기의 집점을 만든다.

<고니오메타(Goniometer)>
▶분석화학에서는 결정의 면각을 측정하기 위한 측각기와 X선 회절을 이용하여 결정의 격자상수(格子常數)를 구하기 위한 X선 측각기를 가리킨다.

<계수 기록 장치>
▶회절X선(Diffracted X-Ray)은 Slit System 을 통과하여 X선 검출부에 들어가며, 이곳에서 전기적인 신호로 변환된다.
▶X선(X-Rays) 광량자는 검출기(Detector)에 의해 전기적인 Pulse 로 변환되며, 이 Pulse 는 Pre-Amplifier 의하여 Impedance(전압의 전류에 대한 비율)가 변환되고, Main-Amplifier 에 의하여 증폭된다.
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