[재료공학실험]주사전자현미경을 이용한 미세구조 관찰

소개글

[재료공학실험]주사전자현미경을 이용한 미세구조 관찰에 관한 실험 레포트입니다.

실험 결과는 없습니다.
토의 및 고찰에 대한 내용만 있습니다.

목차

1. 실험 목적
2. 실험 이론 및 원리
3. 실험 기구 및 시약
4. 실험 방법
5. 토의 사항

본문내용

실험 목적
본 실험에서는 주사전자현미경 (Scanning Electron Microscope: SEM)을 이용하여 재료의 미세구조를 관찰하는 방법을 학습한다.
주사현미경(SEM)의 구조와 작동원리를 알고 주사현미경을 이용하여 미세조직을 관찰, 그 미세조직의구조와 특징등을 파악하는데 실험의 목적이있다.

실험 이론 및 원리
구조-물성-프로세싱의 관계
재료의 미세구조는 프로세싱에 의하여 변화가 가능하며, 이러한 미세구조의 변화는 최종 재료의 물성과 밀접한 관계가 있다. 따라서 최종 물성을 예측하기 위해서 미세구조를 파악할 필요가 있으며, 이를 위하여 본 실험에서는 주사전자 현미경을 활용하기로 한다.

주사전자 현미경(Scanning Electron Microscope: SEM)
전자 현미경에는 크게 나누어 투과전자 현미경 (Transmission Electron Microscope)과 주사 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope)으로 구분할 수 있다.
이의 구조상 차이는 광학현미경의 투과형과 반사형의 차이와 같다고 하겠으며 시료를 준비하는 작업 역시 광학 현미경의 그것으로 투과전자 현미경과 주사전자 현미경을 구분 지어도 크게 무리는 없을 것이다.
주사전자 현미경 (SEM)은 1942년에 개발되어 1960년대 초반부터 상용화되었다. 시료 표면의 입체구조를 직접 관찰하는 기능을 가진 전자현미경이고, 약칭은 SEM이다.
주사전자현미경은 전자기렌즈로 작게 축소된 전자선으로 시료 표면을 주사하여 표면으로부터 발생하는 2차전자·반사전자 등을 증폭하고 이들 양자강도를 휘도(輝度)로 바꾸어 브라운관에 결상시킨다.
시료 내의 원소로부터 발생하는 특정 X선을 분석하는 X선마이크로분석기와 병용하여, 시료 내에서의 특정 원소의 검출이나 분포를 해석하는 수단으로서도 널리 이용되고 있다. 분해능은 약 3∼20㎚이지만, 3㎚ 이하의 분해능을 가진다.
즉, 주사전자 현미경은 전자를 사용해서 시료의 표면을 주사하여 영상을 만드는 것이다.

참고 자료

없음