주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)에 관한 레포트 입니다.

*형*

개인인증 판매자스토어

최초 등록일: 2015.04.27
최종 저작일: 2014.04; 10페이지/ 한컴오피스; 가격 3,000원

다운로드

장바구니

상세정보
자료후기 (0)
자료문의 (0)
판매자정보

본문내용

원리
전자발생원(electron source)으로부터 전자선을 조사해 미소한 점으로 초점을 맞추고, 검출기로 미소점에서의 변화된 신호량의 대소를 브라운관 점의 명암으로써 영상시키는 방식이다. 전자선이 조사될 때 후방 산란 전자(back scattered electron), 2차 전자(secondary electron), X선, 음극 형광 등이 발생된다. 발생한 전자는 검출기에 의해 전류신호로 변환되어 브라운관 위에 신호상으로써 영상화된다. 이 중에서 2차 전자상이 가장 분리능이 높아서 가장 널리 사용된다. 다른 신호에 의한 상은 2차 전자상에 비해 분리능이 떨어지지만 시료를 구성하는 특수한 성질의 정보를 얻을 수 있으므로 이러한 것은 주로 특수목적의 분석에 이용되고 있다.

기능
1. 고체 상태에서 작은 크기의 미세 조직과 형상을 관찰
2. 차원적인 영상의 관찰이 용이해서 복잡한 표면구조나 결정 외형 등의 입체적인 형상을 높은 배율로 관찰할 수 있는 분석 장비
3. 금속 파편, 광물과 화석, 반도체 소자와 회로망의 품질 검사, 고분자 및 유기물, 생체 시료와 유가공 제품 등 전 산업 영역에 활용

참고 자료

http://blog.naver.com/nurian?Redirect=Log&logNo=50076682549(nurian님의 신기한 현미경 세계
http://blog.naver.com/nurian?Redirect=Log&logNo=50076682549(nurian님의 신기한 현미경 세계
http://www.seceng.co.kr/DC/?M=C4a(SEM장비전문제조 쎄크)

이 자료와 함께 구매한 자료

광학현미경과 주사현미경 원리조사 (A+자료) 11페이지
금속 세라믹 고분자 재료 차이점 5페이지

주의사항

환불정책

해피캠퍼스는 구매자와 판매자 모두가 만족하는 서비스가 되도록 노력하고 있으며, 아래의 4가지 자료환불 조건을 꼭 확인해주시기 바랍니다.

파일오류	중복자료	저작권 없음	설명과 실제 내용 불일치
파일의 다운로드가 제대로 되지 않거나 파일형식에 맞는 프로그램으로 정상 작동하지 않는 경우	다른 자료와 70% 이상 내용이 일치하는 경우 (중복임을 확인할 수 있는 근거 필요함)	인터넷의 다른 사이트, 연구기관, 학교, 서적 등의 자료를 도용한 경우	자료의 설명과 실제 자료의 내용이 일치하지 않는 경우

이런 노하우도 있어요!더보기

찾던 자료가 아닌가요?아래 자료들 중 찾던 자료가 있는지 확인해보세요

전기도금 예비 레포트(A+) 16페이지

계면활성제에 의한 유분 제거 3) 주사전자현미경(Scanning Electron ... SEM(Scanning Electron Microscope)을 이용, 도금된 ... Microscope, SEM) 전자 현미경의 종류중 하나로 시료 표면의
접착성 하이드로젤의 제조 13페이지

하이드로젤을 동결건조 후 단면을 잘라 Au-Pd로 코팅 후 주사전자현미경( ... Electron Microscope(SEM). ... Electron Microscope 2.2.4 비커 2.3 실험방법 2.3.1
박막의 두께, 미세조직, 조성 분석방법 조사 21페이지

정의 - 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope ... SEM(Scanning Electron Microscope) 2.2. ... 특징 - 주사전자현미경의 특징으로는 초점이 높은 심도를 이용해서 비교적 큰
XRD와 SEM 4페이지

전자현미경) ① 시험목적 주사형 전자현미경(Scanning Electron ... Microscope : SEM )은 가느다란 전자빔을 시료표면에 주사시켜 ... 이와 같이 결정성 물질의 구조에 관한 정보를 얻기 위한 분석방법이 X선 회절법이다