[전자현미경관찰] 세라믹미세조직분석

등록일 2003.06.06 한글 (hwp) | 7페이지 | 가격 1,000원

목차

1.Introduction
재료를 연구하는데 있어 미세구조를 관찰하고 그 의미를 이해하는 과정은 무엇보다 중요한 일이다.
2.Experimental procedure
*전자 현미경의 원리와 장비 설명
-SEM(Scanning Electron Microscope)
-TEM(Transmission Electron Microscope)
2.현미경분석 과정
-SEM
-TEM
-HRTEM(High Resolution TEM)
3.Experimental Results
SEM
TEM
4.Discussion
1.SEM분석
2.TEM분석

본문내용

광학 현미경은 광원(가시광선)이 갖고 있는 근본적인 한계로 인해 재료의 미세구조를 파악하는데 어려움이 많고, 실제로 원자의 배열이나 원자크기의 결함을 직접 관찰한다는 것은 사실상 불가능하다. 하지만 전자 현미경은 전자빔을 광원으로 사용함으로써 분해능과 미세조직의 분석능력을 획기적으로 개선할 수 있었고 전자가 갖는 특성에 기인해 재료의 조성이라든지 원자의 배열, 격자 결함까지 파악할 수 있는 다양한 활용영역을 제공하는 것이 가능하다. 이러한 이유로 전자 현미경은 재료를 연구하는데 있어 필수적인 도구라 할 수 있다.
이번 실험은 SEM(Scanning Electron Microscope)과 TEM의 견학을 중심으로 전자현미경의 기본적인 원리를 이해하고, 실제의 시편을 이용한 관찰을 수행함으로써 그 활용분야를 확인하는 목적으로 이루어 졌다. 아울러 전자현미경으로 얻어진 자료(미세조직 사진)를 분석하는 과정을 통해 관찰결과가 갖는 실제적 의미를 규명하는 법을 학습하는 것도 중요한 과제 중의 하나라 하겠다.
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