[전자현미경의 미세구조와 관찰] 실험 4. 주사전자현미경(SEM)을 이용한 미세구조 관찰

등록일 2003.05.11 한글 (hwp) | 3페이지 | 가격 1,000원

목차

1. 서론
2. 실험방법
3. 결과 및 고찰
4. 결론

본문내용

1. 서론
가시광선을 이용하여 관찰하는 광학현미경과 다르게 전자를 이용하여 미세구조를 관찰하는 주사전자현미경은 열방사형과 전계방사형의 두 가지가 있다. 주사전자현미경은 광학현미경과 비교하였을 때 분해능이 높으며 피사계심도가 깊다. 이러한 전자를 이용하여 관찰하는 SEM을 통하여 미세부분에 대한 성분분석이 가능하다.
열방사형과 전계방사형을 사용하여 주어진 시편에 대한 작동원리를 이해하면서 상분석과 미세구조를 관찰하고 분석하여 본다.
      최근 구매한 회원 학교정보 보기
      1. 최근 2주간 다운받은 회원수와 학교정보이며
         구매한 본인의 구매정보도 함께 표시됩니다.
      2. 매시 정각마다 업데이트 됩니다. (02:00 ~ 21:00)
      3. 구매자의 학교정보가 없는 경우 기타로 표시됩니다.
      최근 본 자료더보기
      추천도서