[전자현미경의 미세구조와 관찰] 실험 4. 주사전자현미경(SEM)을 이용한 미세구조 관찰

등록일 2003.05.11 한글파일한글 (hwp) | 3페이지 | 가격 1,000원
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목차

1. 서론
2. 실험방법
3. 결과 및 고찰
4. 결론

본문내용

1. 서론
가시광선을 이용하여 관찰하는 광학현미경과 다르게 전자를 이용하여 미세구조를 관찰하는 주사전자현미경은 열방사형과 전계방사형의 두 가지가 있다. 주사전자현미경은 광학현미경과 비교하였을 때 분해능이 높으며 피사계심도가 깊다. 이러한 전자를 이용하여 관찰하는 SEM을 통하여 미세부분에 대한 성분분석이 가능하다.
열방사형과 전계방사형을 사용하여 주어진 시편에 대한 작동원리를 이해하면서 상분석과 미세구조를 관찰하고 분석하여 본다.
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