[엑스선 회절] XRD의 원리 및 회절실험
- 최초 등록일
- 2003.05.11
- 최종 저작일
- 2003.05
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소개글
서론 부분에는 엑스선 회절에 관한 기본적인 이론부분을 다루었으며 본론에서는 실험을 하는 한 방법으로 알루미나 분말(Al2O3분말), 실리카 분말(SiO2), 뮬라이트 분말(Mullite, 3Al2O3·SiO2), 3mol Al2O3와 2mol SiO2 혼합분말을 준비하여 실험한 것을 간단하게 요약하였습니다. 또한 JCPDS card 읽는 방법도 포함되어 있습니다.
목차
[ 서 론 ]
1. X-선의 발견
2. X-선의 발생 및 성질
3. X-선 회절실험의 특징
4. X-선 회절계의 일반적인 구조
5. X-선 회절실험 준비요령 및 주의사항
6. X-선 회절 분석시 주사회전축에 따른 차이점
[Ⅱ 본 론]
1. 실험방법
2. 결과 및 고찰
[Ⅲ 결 론]
본문내용
1. 실험방법
① 알루미나 분말(Al2O3분말), 실리카 분말(SiO2), 뮬라이트 분말(Mullite, 3Al2O3·SiO2), 3mol Al2O3와 2mol SiO2 혼합분말을 준비하였다.
② 각각의 분말을 시편제조시 주의사항에 따라서 시편을 만들었다.
③ XRD기기를 작동시키기 위해서 먼저 냉각수가 흐를수 있게 수도밸브를 열고, 냉각장치를 작동시킨다. 이때 온도가 19℃정도가 가장 이상적이다. 냉각장치가 정상적으로 작동하지 않을 경우 밸브내의 공기를 빼는 스위치를 한번 누른다.
④ 냉각장치를 작동시킨후 고니오메터 모니터를 켜고, XRD기기의 전원을 켠다.
⑤ Key lock을 푼후 HT의 전원을 켠후 전압과 전류를 40kv와 30mA로 맞춘다. 이때 전압과 전류를 올릴 때 10초 간격을 주고 올린다.
⑥ XRD기기와 컴퓨터를 온라인시킨다.
⑦ 미리 만들어둔 시편을 시편 스테이지에 장착시킨후 프로그램을 작성한후 측정한다.
⑧ XRD을 이용하여 얻어진 Peak을 가지고 JCPDS card와 비교하여 단일분말상을 찾는다.
▶ JCPDS card
1) JCPDS 카드의 기재형식
2) JCPDS 카드 읽는 방법
① 1a, 1b, 1c는 가장 강한 회절선과 그에 이어지는 강한 회절선의 면간격이고, 1d는 가장 큰 면간격이다.
② 2a, 2b, 2c, 2d는 가장 강한 회절선의 강도를 100으로 나타낸 각각의 상대강도이다.
③ 장치에 관련된 측정 조건이다.
④ 4는 결정계, 공간군, 격자상수, 축률, 단위 격자내의 화학식수와 밀도등의 결정학적 data가 기입되어 있다.
⑤ 5는 주굴절율, 광학성, 광축각, 밀도, 융점, 색 등의 광학적 data가 기입되어 있다.
참고 자료
없음