[재료기기분석] 유도 결합 플라즈마 방출 분광법 및 XRF, EDS

등록일 2003.05.11 한글 (hwp) | 6페이지 | 가격 1,000원

소개글

[재료기기분석] 유도 결합 플라즈마 방출 분광법 및 XRF, EDS

목차

1.ICP-AES(Inductively Coupled Plasma - Atomic Emission Spectrometry)의 기본원리 및 생성 원리
1) 기본원리
2) 생성원리
2. ICP-AES의 장점과 단점
1. 장점
2. 단점
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1. XRF의 기본원리 및 장치
2. XRF의 분석 방법
3. XRF의 장점과 단점
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에너지 분산 엑스선 분광분석 ]
(Energy Dispersive X-ray Spectrometry - EDS)
1. 발생원리
2. EDS 분석의 특징 및 장단점
3. EDS의 표준시편의 조건

본문내용

ICP-AES(Inductively Coupled Plasma - Atomic Emission Spectrometry)의
기본원리 및 생성 원리
1) 기본원리
시료 용액이 ICP-AES의 분광기에 주입되면 탈수, 기화, 원자화가 일어나 중성원자가 형성된다. 중성 원자에 충분한 열에너지가 주어지면 바닥상태(ground state)에 있는 최외각 전자는 높은 에너지 준위로 전이하여 들뜬 상태(excited state)가 된다. 특히 플라즈마와 같이 높은 열에너지가 가해지면 최외각 전자는 원자의 들뜬 상태는 물론, 에너지 준위가 훨씬 높은 이온의 들뜬 상태까지 올라가게 된다.(그림 1) 이와같이 플라즈마의 열에너지에 의해 들뜬 원자상태 혹은 들뜬 이온상태가지 도달된 전자들은 수명이 매우 짧아 낮은 어네지 준위 상태로 되돌아 오면서 방출선을 낸다. 이때 들뜬 원자 상태에서 방출되는 복사선을 원자선( atom line, Ⅰ), 들뜬 이온상태에서 방출되는 복사선을 이온선( ion line, Ⅱ) 이라 한다. ICP-AES에서는 원자선 보다 이온선의 세기가 훨씬 강하여 이온선을 많이 사용한다.
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XRF의 기본원리 및 장치
x-선 형광분광 분석기는 x-선관, 시편 노출장치, 분석용 결정판, 검출기로 구성되어 있다. x-선관에서는 걸어준 전압에 따른 최소파장에서부터 연속 x-선이 방출되어 시료에 있는 원소들을 들뜨게 하여 특성 x-선을 내게 한다. 이 특성 x-선들은 분석용 결정판에서 Bragg의 회절식에 의하여 파장 별로 분광되어 검출기에서 검출되는데, 그 파장은 시료 중의 존재원소를 정성적으로 알아내고, 특성 x-선의 세기를 측정하여 표준물의 그것과 비교하여 정량 분석한다.
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