[재료기기분석] 유도 결합 플라즈마 방출 분광법 및 XRF, EDS

등록일 2003.05.11 한글 (hwp) | 6페이지 | 가격 1,000원

소개글

[재료기기분석] 유도 결합 플라즈마 방출 분광법 및 XRF, EDS

목차

1.ICP-AES(Inductively Coupled Plasma - Atomic Emission Spectrometry)의 기본원리 및 생성 원리
1) 기본원리
2) 생성원리
2. ICP-AES의 장점과 단점
1. 장점
2. 단점
--------------------
1. XRF의 기본원리 및 장치
2. XRF의 분석 방법
3. XRF의 장점과 단점
------------------------
에너지 분산 엑스선 분광분석 ]
(Energy Dispersive X-ray Spectrometry - EDS)
1. 발생원리
2. EDS 분석의 특징 및 장단점
3. EDS의 표준시편의 조건

본문내용

ICP-AES(Inductively Coupled Plasma - Atomic Emission Spectrometry)의
기본원리 및 생성 원리
1) 기본원리
시료 용액이 ICP-AES의 분광기에 주입되면 탈수, 기화, 원자화가 일어나 중성원자가 형성된다. 중성 원자에 충분한 열에너지가 주어지면 바닥상태(ground state)에 있는 최외각 전자는 높은 에너지 준위로 전이하여 들뜬 상태(excited state)가 된다. 특히 플라즈마와 같이 높은 열에너지가 가해지면 최외각 전자는 원자의 들뜬 상태는 물론, 에너지 준위가 훨씬 높은 이온의 들뜬 상태까지 올라가게 된다.(그림 1) 이와같이 플라즈마의 열에너지에 의해 들뜬 원자상태 혹은 들뜬 이온상태가지 도달된 전자들은 수명이 매우 짧아 낮은 어네지 준위 상태로 되돌아 오면서 방출선을 낸다. 이때 들뜬 원자 상태에서 방출되는 복사선을 원자선( atom line, Ⅰ), 들뜬 이온상태에서 방출되는 복사선을 이온선( ion line, Ⅱ) 이라 한다. ICP-AES에서는 원자선 보다 이온선의 세기가 훨씬 강하여 이온선을 많이 사용한다.
---------------------------
XRF의 기본원리 및 장치
x-선 형광분광 분석기는 x-선관, 시편 노출장치, 분석용 결정판, 검출기로 구성되어 있다. x-선관에서는 걸어준 전압에 따른 최소파장에서부터 연속 x-선이 방출되어 시료에 있는 원소들을 들뜨게 하여 특성 x-선을 내게 한다. 이 특성 x-선들은 분석용 결정판에서 Bragg의 회절식에 의하여 파장 별로 분광되어 검출기에서 검출되는데, 그 파장은 시료 중의 존재원소를 정성적으로 알아내고, 특성 x-선의 세기를 측정하여 표준물의 그것과 비교하여 정량 분석한다.
*원하는 자료를 검색 해 보세요.
  • XRF 원리 17페이지
    ..PAGE:1 XRF (X-Ray Fluorescence) ..PAGE:2 목차 XRF의 원리 XRF의 특징 XRF의 구분 - ED-XRF - WD-XRF XRF의 응용 * ..PAGE:3 XRF의 원리 X-ray의 생성 1. 연속 X-ray 2. 특성 X-ray 연..
  • XRF (X-Ray Flourescence Spectrometry) 의 원리 3페이지
    XRF (X-Ray Flourescence Spectrometry) 원소를 분석하는 방법에는 시료를 파괴하는 파괴 검사가 일반적으로 많이 행하여진다. 그러나 XRF는 대부분의 다른 원소의 분석 방법과는 대조적으로 시료를 파괴하지 않고 측정할 수 있는 비파괴 분석으로서,..
  • XRF 분광법 PPT 14페이지
    ..PAGE:1 XRF 이론 및 활용 ..PAGE:2 INDEX XRF 원리 기기 구성 장단점 국립과학수사연구원 화학분석과 ..PAGE:3 XRF 원리 Principle ..PAGE:4 X-Ray 단파장의 전자기 복사선 (10-5 ~ 100Å) ⅰ) 고에너지의 전자살로..
  • 유해물질 규제법(RoHS)에 따른 휴대폰 내의 중금속 함유량 측정을 위한 스크리닝법 연구 (Study on the screening method for determination of heavy metals in cellular phone for the restrictions on the use of certain hazardous substances (RoHS)) (Study on the screening method for determination of heavy metals in cellular phone for the restrictions on the use of certain hazardous substances (RoHS)) 14페이지
    모든 전기전자제품에 대한 유해 중금속 규제법(RoHS)이 유럽과 중국 등 세계 각 나라에서 시작되면서 이에 대한 중요성이 대두되고 있다. 이와 관련하여, 현재 세계 전기전자 협회(IEC)에서 발표된 IEC 62321 문건은 기존의 표준 분석 규격들과 마찰이 있을 수 있..
  • (PPT)XRF 26페이지
    XRF (X-Ray Fluorescence Analysis) 3. 특징 4. 종류 6. 분광방식에 따른 분류 1. 정의 7. 장·단점 5. 시편제조법 8. 응용분야, 전망 2. 원리 X-선이란? 높은 에너지 전자의 감속이나 원자의 속껍질에 있는 전자의 전이에 의해서 발..
  • [측정기기] X선형광분석법(XRF) 5페이지
    작동 원리 : XRF는 유기물과 무기물에 대한 원소의 정성 및 정량분석을 하는데 사용되는 분석장비이다. 분석방법은 시료에 1차 X선을 조사하여 발생하는 형광 X선을 보통 분광결정에 의하여 분광하여, 그 강도를 검출기로 측정함으로써 정성 또는 정량분석을 하는 방법이다. ..
  • [공학]XRF 23페이지
    (XRF : X-Ray Fluorescence) X 선 형 광 분 석 법 보 고 순 서 ▧ XRF의 개요 ▧ XRF의 원리 ▧ XRF의 장치별 설명 ▧ XRF의 분석 방법 ▧ XRF의 응용 범위 ▧ XRF의 개요 ▧ XRF의 원리 ▧ XRF의 장치별 설명 ▧ XRF의 ..
더보기
      최근 구매한 회원 학교정보 보기
      1. 최근 2주간 다운받은 회원수와 학교정보이며
         구매한 본인의 구매정보도 함께 표시됩니다.
      2. 매시 정각마다 업데이트 됩니다. (02:00 ~ 21:00)
      3. 구매자의 학교정보가 없는 경우 기타로 표시됩니다.
      4. 지식포인트 보유 시 지식포인트가 차감되며
         미보유 시 아이디당 1일 3회만 제공됩니다.
      상세하단 배너
      최근 본 자료더보기
      상세우측 배너
      추천도서
      [재료기기분석] 유도 결합 플라즈마 방출 분광법 및 XRF, EDS