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전전컴실 8결과보고서-트랜지스터의 다이오드 접합을 시험하기 위한 저항계의 사용

*효*
최초 등록일
2012.04.14
최종 저작일
2010.09
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소개글

전전컴실 8결과보고서-트랜지스터의 다이오드 접합을 시험하기 위한 저항계의 사용

목차

○ 실험 목적과 목표

○ 회로도

○ 실험8의 데이터

○ 결과 및 결론

본문내용

○ 실험 목적과 목표
저항계를 사용하여 npn형과 pnp형 트랜지스터를 어떻게 시험하는지를 설명하는 것. 트랜지스터는 내부적으로 두 다이오드의 접합으로 나타낼 수 있으므로 저항계를 사용하여 각 다이오드의 접합을 점검하는데, 개방 또는 단락된 다이오드의 접합을 간단히 시험할 수 있다. 세 단자를 알고 있다면 주어진 트랜지스터가 npn형 또는 pnp형인지의 결정이 가능하다.

<중략>

트랜지스터의 베이스 단자, 이미터 단자, 콜렉터 단자를 구분할 수 없을때 멀티미터의 저항측정 기능을 이용하여 또는 볼트옴미터 를 사용하여 트랜지스터의 각 단자의 저항을 측정하여 pnp 인지 npn 인지 확인을 하는 실험이다 특별 히 기술적인 면이나 이론적으로 어려운 부분은 없었으며 다만 트랜지스터 소자가 너무 작아 측정을 하는데 어려운점이 많았다. 또한 가지고 있던 교재의 그림이 잘못나와 있어서 측정을 여러번 하였다 그러나 측정을 하고 데이터를 분석을 해보았을 땐 특별한 장치 없이 단지 트랜지스터의 3개의 단자조합만으로 pnp 인지 npn 인지 쉽게 찾을 수 있었던 것 같다.

참고 자료

없음
*효*
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