신소재공학실험 - X선 회절 분석법을 통한 시료분석 발표자료

소개글

신소재공학실험 과목에서

X선 회절 분석법을 통한 시료분석 실험에 대한 발표자료 PPT 입니다.

이론적인 배경에서 X선의 정의부터 종류, 발생원리, 시료의 분석을 다루고

실험과정에서 시편준비, 시편패킹, XRD실험, 에 순서로 다루고 있으며

결과 및 분석을 통하여 단일시료와 혼합시료의 결과의 차이를 분석하고 있습니다.

결론에서 단일 시료 ZnO와 혼합 시료 Al2O3의 분석에 따른 값들을 정리하고

오차발생의 원리또한 다루고 있으며 Reference 로 마무리되는 자료 입니다.

신경많이써서 만든 발표 자료인 만큼 성적또한 잘받았습니다.

목차

1.Introduction & Process
2.Results & Analysis

본문내용

3. 격자상수

Al2O3와 B2O3의 결정구조는 각각 Rhombohedral과 Hexagonal이며, 따라
서 격자상수는 면 간 거리 공식(Rhombohedral, Hexagonal)과 Bragg 공식 을 연립하여 구할 수 있다.

이 때, Al2O3는 음이온이 HCP를 형성하고 양이온이 Octahedral site의 2/3
를 채우고 있으며, 이 때 Octahedral site도 음이온과 마찬가지로 hexagonal
array를 가지는 Corundum구조이다. 따라서 격자상수를 구할 때 Hexagonal
을 적용해도 무방하다고 가정한다.

Al2O3의 경우 2θ가 35.18°, 57.50°일 때의 면 지수는 JCPDS카드를 통해
(104), (116)이고 B2O3의 경우 2θ가 66.52°, 43.38°일 때의 면 지수는 JCPDS
카드를 통해 (024), (111)임을 알아낼 수 있었다.

참고 자료

없음